bh荧光寿命成像FLIM系统

德国Becker&Hickl公司,专注于荧光寿命测量及荧光寿命显微(FLIM)领域的研究及产品系统研发,利用其独特的多维TCSPC技术,不断的引领FLIM技术的前进。基于bh公司常年的FLIM研究,可以提供基于各种显微镜的FLIM系统升级,方案灵活,性能可靠。

基本信息

becker&hickl logo

bh荧光寿命成像FLIM系统升级方案


bh可提供完整的DCS-120共聚焦/双光子FLIM系统和基于纳米位移台的PZ-FLIM-110系统,也可以在各类显微镜上升级。除了单个通道的升级,也可进行多通道的升级。此外,还可提供FASTAC快速FLIM升级。

荧光显微镜

DCS-120 FLIM系统 PZ-FLIM-110 系统
DCS-120 FLIM系统

  • DCS-120共聚焦扫描头
  • BDL-SMN ps激光器/其他
  • 单光子探测器
  • TCSPC计数器
  • SPC-imaging软件
PZ-FLIM-110 系统

  • 2D/3D纳米位移台
  • BDL-SMN ps激光器/其他
  • 单光子探测器
  • TCSPC计数器
  • SPC-imaging软件

由于激光和探测器可以灵活的与扫描单元耦合,DCS-120和PZ-FLIM-110可以在几乎所有荧光显微镜上进行FLIM升级。而且,扫描速度可以自由控制,所以对于PLIM长寿命实验也可轻松完成。此外,主二向色镜可以灵活更换,可以充分发挥超连续谱激光器及各波段激光器的优势。

激光共聚焦/双光子显微镜

bh荧光寿命成像FLIM系统插图3 bh荧光寿命成像FLIM系统插图4
Zeiss

  • LSM 710/780/880
  • LSM 510/510NLO
Leica

  • SP2/SP5
bh荧光寿命成像FLIM系统插图5 bh荧光寿命成像FLIM系统插图6
Olympus

  • FV 300/1000/3000
Nikon

  • A1/A2/C1

bh荧光寿命成像FLIM系统插图7激光共聚焦/双光子显微镜FLIM升级datasheet

bh荧光寿命成像FLIM系统插图7FASTAC 快速成像FLIM系统datasheet

原子力/近场光学显微镜

bh荧光寿命成像FLIM系统插图8
  • bh可在AFM/NSOM上升级FLIM系统,可同时得到AFM和FLIM/PLIM数据。

宏观样品FLIM系统

bh荧光寿命成像FLIM系统插图9 基于bh公司的DCS-120共聚焦扫描头,结合大数值孔径物镜,可以对宏观样品采集FLIM数据。

  • 扫描视场直径可达15mm
  • 成像分辨率可达2048x2048
  • FLIM/PLIM采集

宽场FLIM系统

bh荧光寿命成像FLIM系统插图10 激光共聚焦及双光子显微镜等点扫描成像系统造价昂贵,对于成像空间分辨率要求不高的应用,可以在普通荧光显微镜上升级宽场FLIM系统。

  • 基于单光子相机,简单易用
  • 空间分辨率:1024 x 1024
  • 时间分辨率可达50 ps FWHM
  • 饱和计数率可达1 MHz
  • 光谱探测范围200-800 nm(取决于型号)
Becker&Hickl公司

Becker&Hickl GmbH-德国bh公司


成立于1993年,专注于荧光寿命测量及荧光寿命显微(FLIM)领域的研究及产品系统研发,利用其独特的多维TCSPC技术,不断的引领FLIM技术的前进。BH在全球范围内已提供超过1600套TCSPC系统,并定期在全球范围内组织5个专题技术研讨会,推动FLIM技术在生命科学、生物医学等领域的应用。

多维TCSPC

Dr. Wolfgang Becker著有《Advanced Time-Correlated Single Photon Counting Techniques》及《Advanced Time Correlated Single Photon Counting Applications》两本专著,细致介绍了多维TCSPC技术及其相关应用,为相关研究者提供了强大的支持。

bh荧光寿命成像FLIM系统插图1 bh荧光寿命成像FLIM系统插图2

 

荧光寿命与FLIM技术


荧光寿命是指分子在单线激发态所平均停留的时间。它不仅与物质自身的结构有关,而且与其所处微环境的极性、粘度等条件有关,因此通过荧光寿命测定可以直接了解物质及所在体系发生的变化。荧光现象多发生在纳秒级,正好是分子运动的时间尺度,因此测量荧光寿命可以“看”到许多复杂的分子间作用过程,例如超分子体系中分子间的簇集,固液界面上吸附态高分子的构象重排、蛋白质高级结构的变化等。

FLIM-荧光寿命成像显微,是将荧光寿命测量与激光扫描共聚焦显微镜等样品扫描技术相结合的成像技术,通过扫描可以得到样品各空间点荧光强度随时间变化情况。由于荧光寿命是所研究系统的固有特性,与细胞内各处荧光探针的局部浓度无关,且不受光漂白和散射的影响,与荧光成像相比有更多优势。

FLIM系统结构

 

脉冲激光器
  • Ti:Sapphire飞秒激光器
  • bh 皮秒二极管激光器
  • 超连续谱激光器
空间扫描单元
  • 扫描振镜(bh DCS-120扫描头,激光共聚焦/双光子显微镜等)
  • 2D/3D纳米位移台(AFM,NSOM等)
显微镜
  • Zeiss/Leica/Olympus/Nikon/其他
  • 大数值孔径物镜(宏观样品)
单光子探测器
  • PMT/计数型PMT
  • MCP型PMT/位置敏感型PMT
  • SPAD/APD
  • Hybrid型PMT探测器
  • 超导单光子探测器
  • 计数型InGaAs探测器
TCSPC计数器
  • bh多维TCSPC计数器
FLIM软件
  • SPC-IMG-NG采集分析软件
FLIM图片

16光谱FLIM成像

bh荧光寿命成像FLIM系统插图

TCSPC—STED

bh荧光寿命成像FLIM系统插图1

同时获得FLIM&PLIM

bh荧光寿命成像FLIM系统插图2

 

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